LSIの故障メカニズムの一つであるESD（Electrostatic Discharge）破壊の説明として，適切なものはどれか。
機械的な力によって，配線が切断されてしまう現象
寄生サイリスタの導通によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
静電気放電によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
電流が過度に流れることによって，配線が切断されてしまう現象